FREIE SEMINARTOUR: Pulsed IV | TriState PIV | Load Pull | Passiv | Aktiv | Hybrid

TriState Pulsmessung für Memory-Effekte an GaN-Bausteinen | Innovationen für Wave Load Pull von 10 MHz - 220 GHz

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Gepulste Spannungsquellen und Strom-Spannungs-Pulsmesssysteme (PIV) von Focus-Microwaves

Die Pulsmesssysteme von Focus-Microwave sind synchronisierte Puls­generatoren mit zeitaufgelöstem Messsystem für Strom und Spannung. Sie wurden für die folgenden Aufgaben optimiert:

  • Gepulste Strom-Spannungsmessungen an Hoch­frequenz- und Leistungs­halb­leitern am Ein- und Ausgang des Bau­steins.
  • HF-Eigenschaften von gepulst versorgten Bauelementen: S-Parameter, Leistungs­kennlinien, IM3, Load Pull mit mechanischen- und aktiven Tuner­systemen.
  • Charakterisierung von Memory-, Grenzflächen- und Umlade­effekten an Halbleiterbausteinen mit Hilfe eines Vorpulses (TriState Systeme).

Messungen mit Pulsanregung sind dann notwendig, wenn isotherme Kennlinien und Memory-Effekte gemessen werden müssen. Aber auch dann, wenn Halbleiter­bausteine eine so hohe Leistungsaufnahme benötigen, dass eine Messung im Dauerstrichbetrieb aufgrund der Eigenerwärmung gar nicht mehr möglich ist. Besonders bei Leistungshalbleitern in Form von Einzelchips oder Wafern, die auf Probe-Stations kontaktiert werden, ist meist keine genügende Wärmeabfuhr gegeben. Die einzig verbleibende Alternative für den zerstörungfreien Test ist dann die Anwendung von Pulsquellen.